Run-to-Run Control in Semiconductor Manufacturing

Run-to-Run Control in Semiconductor Manufacturing

James Moyne, Enrique del Castillo, Arnon M. Hurwitz
この本はいかがでしたか?
ファイルの質はいかがですか?
質を評価するには、本をダウンロードしてください。
ダウンロードしたファイルの質はいかがでしたか?
Run-to-run (R2R) control is cutting-edge technology that allows modification of a product recipe between machine "runs," thereby minimizing process drift, shift, and variability-and with them, costs. Its effectiveness has been demonstrated in a variety of processes, such as vapor phase epitaxy, lithography, and chemical mechanical planarization. The only barrier to the semiconductor industry's widespread adoption of this highly effective process control is a lack of understanding of the technology. Run to Run Control in Semiconductor Manufacturing overcomes that barrier by offering in-depth analyses of R2R control.
カテゴリー:
年:
2000
版:
1
出版社:
CRC Press
言語:
english
ページ:
341
ISBN 10:
0849311780
ファイル:
PDF, 8.79 MB
IPFS:
CID , CID Blake2b
english, 2000
オンラインで読む
への変換進行中。
への変換が失敗しました。

主要なフレーズ